П тип М10 Монокристална соларна плочица

Метода раста

ЦЗ

Кристалност

Монокристални

Преференцијалне технике гравуре（АСТМ Ф47-88）

Тип проводљивости

П-тип

Напсон ЕЦ-80ТПН

P/N

Допант

Бор, Галијум

-

Концентрација кисеоника [Ои]

≦8Е+17 ат / цм³

ФТИР (АСТМ Ф121-83)

Концентрација угљеника [Цс]

≦5Е+16 ат / цм³

ФТИР (АСТМ Ф123-91)

Густина нагризане јаме (густина дислокације)

≦500 цм^-3

Преференцијалне технике гравуре（АСТМ Ф47-88）

Оријентација површине

[ГГ] лт; 100 [ГГ] гт; ± 3 °

Метода дифракције Кс-зрака (АСТМ Ф26-1987)

Оријентација псеудо квадратних страница

[ГГ] лт; 010 [ГГ] гт ;, [ГГ] лт; 001 [ГГ] гт; ± 3 °

Метода дифракције Кс-зрака (АСТМ Ф26-1987)

Отпорност

0,5-1,5 Ωцм

Систем инспекције облатни

МЦЛТ (животни век мањинског превозника)

≧50 μs

Синтон БЦТ-400

(са нивоом убризгавања: 1Е15 центиметар^-3)

Геометрија

Пун квадрат

Дужина бочне плочице

182 ± 0,25 мм

систем инспекције облатни

Пречник облатне

φ247 ± 0,25 мм

систем инспекције облатни

Угао између суседних страница

90° ± 0.2°

систем инспекције облатни

Дебљина

180﹢20/﹣10 µm;

170﹢20/﹣10 µm

ТТВ (Укупна варијација дебљине)

≤27 µm

систем инспекције облатни

Метода сечења

ДВ

--

Квалитет површине

као изрезани и очишћени, без видљиве контаминације (уље или маст, отисци прстију, мрље од сапуна, мрље од гнојнице, епоксидне / лепљиве мрље нису дозвољене)

систем инспекције облатни

Ознаке / степенице тестере

≤ 15µm

систем инспекције облатни

Лук

≤ 40 µm

систем инспекције облатни

Варп

≤ 40 µm

систем инспекције облатни

Цхип

дубина ≤0,3 мм и дужина ≤ 0,5 мм Мак 2 / ком; нема В-цхип

Голим очима или систем инспекције облатни

Микро пукотине / рупе

Није дозвољено

систем инспекције облатни